2010年6月 - Design Automation Conference 2010に出展

TOOL 株式会社は、2010年6月14日から16日の3日間、米国アナハイムにて開催されます Design Automation Conference 2010 に出展いたします。
新機能を搭載した LAVIS の最新版、Ver.10.0 や、新たに対応したOpenAccessデータ表示、データの大規模化に伴いますます需要が高まるOASIS-Utilityについてご紹介しますので、ご来場の際にはぜひ弊社ブースにお立ち寄りください。 デモのご予約は こちら>>

  ■LAVIS
     □最新版 Ver.10.0
        LEF/DEF データ上で指定コンポーネントからの経路を効率的に追跡することができる
        「ルート探索機能」を新たに搭載しました。本機能は、 タイミング違反経路の検証や、 故障
        診断候補情報から故障経路を絞り込む 用途としてご活用いただけます。また、等電位追跡
        機能には、コンタクト 接続部分で抵抗値が高くなる箇所を自動的に検出する機能、計測機能
        には、計測箇所に図形が存在するかしないかを自動的に判別することにより、 L/Sの計測
        結果を区別して出力することができる機能などを追加しました。 このほかにもさまざまな機能が
        追加されていますので、これらの有効な 活用方法などをデモを交えてご紹介します。
     □OpenAccess 対応
        OASIS などの標準フォーマット同様に、LAVIS において OpenAccess データの 表示が
        可能となりました。これにより LAVIS の標準機能を OpenAccess データ に対して適用
        できるようになります。OpenAccess データと、テープアウト前の 物理データとの対話的な
        LVL などもこれで可能になります。 □豊富なインターフェース 他社製 DRC/LVS ツール
        とのインターフェースによるエラー DB ファイルや タイミング情報を活用したデバッグ作業、
        リソ・シミュレータとのインター フェースによる実行結果や検証結果の確認など、LAVIS の
        超高速レイアウト 表示技術を設計のあらゆる工程でご活用いただけます。
   ■OASIS-Utility
       GDS データの大規模化にともない OASIS 環境の整備の必要性が高まるなか、 GDS と
       OASIS データの相互変換や OASIS データの編集、セルの階層展開、 指定検査条件に
       基づき、階層を考慮したフォーマットや不正図形チェックを 行えるなど、煩雑な作業を効率的
       かつ高速に行うことのできるユーティリ ティ群です。チェック結果は LAVIS を用いて視覚的に
       確認することも可能 です。

会 期　 2010年6月14日（月） ～ 16日（水） 3日間  時 間   9:00 ～ 18:00 　 会 場　 Anaheim Convention Center                          ブース番号　189  (Hall C)