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2008年11月 - LSIテスティングシンポジウム出展のご報告
先般、大阪の千里中央にて開催されました、第28回 LSI テスティングシンポジウムにおきましては、ご多忙中にもかかわらず弊社の商業展示ブースにお越しいただきまして、誠にありがとうございました。
お蔭様をもちまして盛況のうちに終了いたしました。
今回の出展では、「LAVIS」を故障解析の分野にお役立ていただくことができる機能群のご紹介をデモを交えてご覧いただきました。また、コマーシャル講演におきましても、これら機能を合わせてご紹介させていただきました。
今後も、故障解析の分野で有用となるLAVISの機能群の充実を図ってまいりますので、よろしくお願い申し上げます。
なお、ご質問やご要望などがございましたら、お気軽にお問い合わせください。
LSIテスティングシンポジウムの様子
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