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2008年5月 - 45th Design Automation Conferenceに出展

今年のDACでは、ブース展示に加え、スイートブースをご用意させていただきました。国内外の多数のお客様への導入実績を誇る弊社製品の魅力を、この機会にぜひ実感してください。

特にLAVISでは、最新版で大幅に強化された等電位追跡機能や、不良解析で有用な新機能、「3次元表示機能」をご紹介するとともに、プライベートデモでは、次期バージョンでリリース予定の内容を織り交ぜながら、高速ビューアとしてのみならず、デバッガーやチェッカーとしての活用方法もご覧にいれます。デモのご予約は こちら>>

さらに、DAC 開催期間中、アンケートにお答えいただいたお客様全員を対象に「おみくじ」をひいていただき、見事に「当たり」をひかれた方には素敵な景品を贈呈いたします。こちらのイベントにも奮ってご参加ください。

      • 会 期  2008年6月9日(月) ~ 12日(木) 4日間 
      • 時 間   9:00 ~ 18:00  (最終日は 13:00 まで)
      • 会 場  Anaheim Convention Center, California
                  ブース番号 2840  (Hall D)
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